[系统简介]

材料的基础物性研究是产品产业化的根基，当一种材料需要产业化的时候，我们必须尽可能大范围地，高精度地掌握它的大部分特性，以免因为错误的数据而影响了后期产业化的方向，造成不必要的损失。

MIA系列是东阳特克尼卡株式会社与ZURICH联合开发，面向各种介电材料的交流阻抗评测系统。该系统搭配了独有的OSL补偿系统，实现了高达0.2%的测量误差精度。

[系统特征]

可对应最大1TΩ的样品 – 适用于介电材料，配位化合物，离子导电材料，调色剂，有机半导体等

高精度 – 基础测量精度0.2% – 带有OSL校正

专用软件 – HIMS全自动控制测量软件 – Z-View等阻抗分析软件

各种专业配件 – 适用于各种不同材料形态尺寸样品的夹具选配件 – 适用于各种气体氛围，环境和温度的选配件

[选配件]

电压放大功能 – 最高DC：±4kV、AC：800Vpp，带特殊保护装置。

样品夹具/温度控制

[系统规格]