Productos estrella

E4990A-120K
Análisis de materiales - Japón

Toyo Corporation E4990A-120K Analizador de impedancia de alta frecuencia

July 14, 2021 – 该系统能够提供至今为止固态电解质活化能计算用高精度的内阻测量环境。日本众多顶尖固态电解质材料研究机构必备...

SiC Detección espectral
Análisis de materiales - China

Espectroscopia SiC fase epitaxial fase superficial análisis no destructivo de defectos

04 de julio de 2023 - La baja resolución espacial de la detección por microondas a nivel de mm no permite obtener imágenes precisas de la distribución de los tiempos de vida de los portadores. Con la nueva técnica de obtención de imágenes de espectroscopia de absorción transitoria, se utiliza una cámara de alta velocidad para obtener imágenes de la dinámica de decaimiento de los portadores sin necesidad de escanear la muestra. Aumento significativo de la velocidad de detección...

FCE10
Análisis de materiales - Japón

Sistema de ensayo de materiales ferroeléctricos Toyo Technica FCE10

14 de julio de 2021 - Sistema de evaluación para una amplia gama de materiales ferroeléctricos, piroeléctricos y dieléctricos. La nueva arquitectura VG y el diseño de doble sensor QV/IV permiten detectar con precisión pequeños cambios de carga en películas finas o materiales con nanopartículas....

Todos los productos - Análisis de materiales

Frontal PALS
Análisis de materiales - China

Espectrómetro de aniquilación de positrones de vida útil Anhui Core PALS

14 de julio de 2021 - Las técnicas de aniquilación de positrones son extremadamente sensibles a las transiciones de fase estructurales y a los defectos a escala atómica en los materiales, y como técnica de análisis microscópico, el principal ámbito de investigación es la...

mfemto
Análisis de materiales - China

Time-Tech Spectra mFemto-UM100 飞秒瞬态反射显微镜系统

July 14, 2021 – 该系统结合显微镜和飞秒激光,用于检测微纳样品的光激发瞬态吸收光谱、动力学过程以及瞬态吸收光谱成像。系统同时具备高时间分辨(飞秒)和<1um的空间分辨能力...

um100
Análisis de materiales - China

Time-Tech Spectra 飞秒瞬态吸收光谱系统

14 de julio de 2021 - La espectroscopia de transitorios resuelta en el tiempo puede utilizarse para estudiar la evolución de estados cuánticos y procesos dinámicos como las interacciones entre estados. Procesos dinámicos como los que ocurren en superficies, en soluciones, en polímeros, en materiales optoelectrónicos y en las ciencias de la vida....

FCE10
Análisis de materiales - Japón

Sistema de ensayo de materiales ferroeléctricos Toyo Technica FCE10

14 de julio de 2021 - Sistema de evaluación para una amplia gama de materiales ferroeléctricos, piroeléctricos y dieléctricos. La nueva arquitectura VG y el diseño de doble sensor QV/IV permiten detectar con precisión pequeños cambios de carga en películas finas o materiales con nanopartículas....

E4990A-120K
Análisis de materiales - Japón

Toyo Corporation E4990A-120K Analizador de impedancia de alta frecuencia

July 14, 2021 – 该系统能够提供至今为止固态电解质活化能计算用高精度的内阻测量环境。日本众多顶尖固态电解质材料研究机构必备...

MIA-5
Análisis de materiales - Japón

Analizador de impedancia de materiales MIA-5M de Toyo Corporation

14 de julio de 2021 - Sistema de medición de impedancia de CA para una amplia gama de materiales dieléctricos. El sistema está equipado con el exclusivo sistema de compensación OSL y alcanza una precisión de error de medición de hasta 0,2%....

ECCSB320
Análisis de materiales - Japón

Lasertec ECCS B310/B320 Sistema confocal para la visualización de reacciones electroquímicas

July 14, 2021 – 电池电化学原位实时观测唯一手段。可实现充放电状态下,锂电池的电化学反应进程分布的观察、定量化。电池材料、工艺改进的手段...

Simulador de luz solar de pulso largo

Análisis de materiales - Japón

Simulador solar de gran superficie WACOM Long Pulse Flicker Multi-Lamp Source

4 de abril de 2022 - Se han desarrollado simuladores solares de pulso largo para la certificación de módulos fotovoltaicos. El aumento del pulso de la fuente de luz permite un mayor alcance de la radiación en una gran superficie. La duración del pulso puede ajustarse de 80 ms a 800 ms para la cualificación de módulos fotovoltaicos.....

Simulador de luz solar de doble fuente luminosa

Ensayos de materiales - Japón

WACOM AM0/AM1.5 Simulador de luz solar continua de doble lámpara

4 de abril de 2022 - Wacom utiliza un diseño de fuente de luz dual de lámparas de xenón y halógenas, junto con filtros especiales para producir una luz artificial más natural y optimizada que se asemeja mucho a la luz solar real. Se utiliza un circuito regulador de voltaje para lograr una iluminación continua de la fuente de luz...

FLIS

Ensayo de materiales - China

Sistema de formación de imágenes de fluorescencia (intensidad) con barrido láser para dispositivos optoelectrónicos

April 9, 2022 - Para el estudio y la obtención de imágenes de la dinámica de fluorescencia en muestras a escala micro y nanométrica de semiconductores, materiales de conversión fotoeléctrica, materiales fotocatalíticos y muestras biológicas. Imágenes del tiempo de vida de la fluorescencia, imágenes de la intensidad de la fluorescencia, imágenes de la fotocorriente...

plc

Ensayo de materiales - China

飞秒荧光上转换光谱系统

April 9, 2022 –用于研究紫外、可见光和近红外光谱区域,溶剂化动力学、分子内相干振动, 飞秒光异构化反应动力学,电荷转移反应,DNA 核苷和核苷酸的荧光特性 ,球状蛋白中多个位点的溶剂化反应,凝聚态物质...

Todos los instrumentos - Preparación de muestras

Sistema de litografía 3D de escritura directa por láser de dos fotones-MPP-PPI-1000x624
Preparación de muestras - China

Polimerización de dos fotones I Sistema de impresión 3D por polimerización de dos fotones

May 29, 2023 – 双光子聚合(2PP)3D打印系统提供高精度的增材制造技术,可实现纳米级分辨率,适用于微纳米结构的复杂几何形状制造。...

LabRAM
Preparación de muestras - EE.UU.

Mezclador RESONANT ACOUSTIC® LABRAM I

06 de junio de 2021 - LabRAM I se ha diseñado para el mezclado por lotes de mezclas de desarrollo y repetitivas.Con una capacidad de carga útil de 500 g (1,1 lb) y una aceleración de hasta 100 g, LabRAM I aporta importantes...